Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Vetenskap
  5. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

- Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

del av Springer Series in Chemical Physics-serien

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Om Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783642618734
  • Format:
  • Häftad
  • Sidor:
  • 300
  • Utgiven:
  • 13. december 2011
  • Utgåva:
  • 11979
  • Mått:
  • 152x229x17 mm.
  • Vikt:
  • 466 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 18. december 2024

Beskrivning av Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

Användarnas betyg av Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.