Marknadens största urval
Snabb leverans

Scanning Electron Microscopy

- Physics of Image Formation and Microanalysis

Om Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783540639763
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 529
  • Utgiven:
  • 17. september 1998
  • Utgåva:
  • 21998
  • Mått:
  • 242x166x34 mm.
  • Vikt:
  • 954 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 16. december 2024

Beskrivning av Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Användarnas betyg av Scanning Electron Microscopy



Hitta liknande böcker
Boken Scanning Electron Microscopy finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.