Marknadens största urval
Snabb leverans

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Om Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783030683672
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 131
  • Utgiven:
  • 11. mars 2021
  • Utgåva:
  • 12021
  • Mått:
  • 155x235x0 mm.
  • Vikt:
  • 454 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 17. december 2024

Beskrivning av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Användarnas betyg av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs



Hitta liknande böcker
Boken Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.