Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Digital Noise Monitoring of Defect Origin

av Telman Aliev

del av Lecture Notes in Electrical Engineering-serien

Digital Noise Monitoring of Defect Origin av Telman Aliev
Om Digital Noise Monitoring of Defect Origin

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9780387717531
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 224
  • Utgiven:
  • 25. juli 2007
  • Utgåva:
  • 2007
  • Mått:
  • 155x235x14 mm.
  • Vikt:
  • 1120 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 24. december 2024
Förlängd ångerrätt till 31. januari 2025

Om Telman Aliev

Se alla böcker av Telman Aliev

Beskrivning av Digital Noise Monitoring of Defect Origin

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

Användarnas betyg av Digital Noise Monitoring of Defect Origin



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Digital Noise Monitoring of Defect Origin finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.