Marknadens största urval
Snabb leverans

Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

- Principles and Applications

Om Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9780470886052
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 368
  • Utgiven:
  • 28. juni 2013
  • Mått:
  • 243x165x21 mm.
  • Vikt:
  • 762 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 24. december 2024
Förlängd ångerrätt till 31. januari 2025

Beskrivning av Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Användarnas betyg av Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry



Hitta liknande böcker
Boken Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.